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神谷 富裕; 峰原 英介; 水橋 清; 中田 康裕*
Proceedings of the 12th Symposium on Ion Sources and Ion-Assisted Technology, p.151 - 156, 1989/00
現在日本原子力研究所において、放射線高度利用計画の一環としてマイクロビーム形成技術の開発を進めている1
mオーダにまでビームを細く集束させるために、装置の重要な構成要素の1つであるレンズのビーム光学特性をよく把握する必要がある。マイクロビームに使用する2連4重極電磁石の磁場分布を測定し、測定値を解析して、ビーム軌道のシミュレーションに必要な磁場のパラメータを抽出した。さらに別の解析によって多重極磁場成分の中心軸方向の分布を求めた結果、電磁石の磁極端の付近に6重極以上の多重極磁場成分が局在している事が明らかになった。